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标准 EIA/JESD51 Methodology for the Thermal Measurement

jesd51 Methodology for the Thermal Measurement of Component Packages (Single Semiconductor).pdf


EIA/JESD51  Methodology for the Thermal Measurement


JESD51-全集与大家分享



JESD测量
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大神点评3

fluent 2011-5-1 09:35:55 显示全部楼层

EIA/JESD51

好资料，谢谢楼主分享。
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delta 2011-5-1 09:35:55 显示全部楼层

Characterizing the Thermal Solution Requirement
The idea of a “thermal characterization parameter”
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你的美 2011-5-1 09:35:55 显示全部楼层

Key: This can be a useful value for verifying device temperatures in an actual environment.
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