LED 参数测量标准
———CIE 和IEC 的比较及其它
吕 正
(中国计量科学研究院 北京 100013)
摘 要
比较了CIE(国际照明委员会) 和IEC(国际电工委员会) 两个国际组织对LED(发光二极管) 参数
测量标准某些方面的不同表述,指出各自特点,提出一些建议。
关键词 CIE IEC LED
引言
LED 技术虽然已经有40 多年的发展历史,在产
业界依然存在LED 光学参数测试再现性差,测量不
确定度大,不同测试装置之间的测试结果一致性差等
现象[1~3 ] 。究其原因,如同国内对LED 产业存在多头
管理,国际上也一样: 国际半导体设备与材料组织
(SEMI) ,国际电工委员会( IEC) 和国际照明委员会
(CIE) 都程度不同地涉及到LED ,尤其是后两个委员
会。正是由于LED 的相关测量标准是由国际上不同
的标准化组织制定的,而且各个国际组织总体上没有
系统的规划,相关组织间也没有充分协商,因而存在
不同的质量评价体系,所颁文件的技术内容也不尽相
同。IEC 成立于1906 年,它把LED 作为一个显示用
半导体器件处理,侧重于它的物理特性。CIE 成立于
1913 年,它更多地把LED 作为一个光源器件处理,所
以导致各自的LED 测量标准之间存在微小的差异。
本文试图通过比较各自的标准,找出两者的不同之
处,以便为LED 测试方法标准的最终定稿提供一些
参考。
LED参数测量标准.pdf (158.04 KB)
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