关于测试温度的换算关系——急

已解决
悬赏金额: 2 金币
我公司的产品的最大工作温度是45度
我要测试产品在最大功耗的情况下是否能满足指标的要求
但是我公司的高温房只有40度，我能否采用线性换算的方式得出数据（工作在芯片的温度范围内）。
比如我在40度环境下测量的结果是75度，换算到45度就是75+5=80度。
请各位大侠论证一下这样换算的可靠性是多少
最好能给出科学依据


我认为基本可以是推算！！
科学依据——例如：Rja为芯片结点到环境的热阻（中间有个散热器），那么Rja=Rjs+Rsa，其中Rjs不变，Rsa可能会因为温度40或45度有所差异，但变化也很小。那么说明Rja不变。之后利用Rja=(Tj-Ta)/P。其中Rja、P不变，一个Ta就可以对应一个Tj了。

其实关键是热阻，热阻知道了其它都好办了。
BTW：那两个金币我可以领走。

我认为基本可以是推算！！
科学依据——例如：Rja为芯片结点到环境的热阻（中间有个散热器），那么Rja=Rjs+Rsa，其中Rjs不变，Rsa可能会因为温度40或45度有所差异，但变化也很小。那么说明Rja不变。之后利用Rja=(Tj-Ta)/P。其中Rja、P不变，一个Ta就可以对应一个Tj了。

其实关键是热阻，热阻知道了其它都好办了。
BTW：那两个金币我可以领走。

ss说的对。
在作温度实验时，可以认为产品的温升不变。
即芯片测试温度值－测试环境温度＝芯片温升，芯片温升不随测试环境温度变化。

上理
我想知道一下
在芯片的工作温度里面
高温对芯片的功耗影响有多大