2.1某些基本概念
2.1.1 温升
指机柜内空气温度或元器件温度与环境温度的差。如果忽略温度变化对空气物性
的非线性影响,可以将一般环境温度下(如空调房27℃)测量获得的温升直接加上最
高可能环境温度获得最恶劣环境下的器件近似温度。例如在空调房内测得某器件温升
为40℃,则在55℃最高环境温度下该器件的温度将为95℃。
2.1.2 热耗
指元器件正常运行时产生的热量。热耗不等同于功耗,功耗指器件的输入功率。
一般电子元器件的效率比较低,大部分功率都转化为热量。计算元器件温升时,应根
据其功耗和效率计算热耗,当仅知道大致功耗时,对于小功率设备,可认为热耗等于
功耗,对于大功耗设备,可近似认为热耗为功耗的75%。其实为给设计留一个余量,
有时直接用功耗进行计算。但注意电源模块的效率比较高,一般为70%~95%,对于同
一个电源模块,输出功率越小,效率越低。
2.1.3 热流密度
单位面积上的传热量,单位W/m2。
2.1.4 热阻
热量在热流路径上遇到的阻力,反映介质或介质间的传热能力的大小,表明了
1W热量所引起的温升大小,单位为℃/W或K/W。用热耗乘以热阻,即可获得该传热路
径上的温升。
可以用一个简单的类比来解释热阻的意义,换热量相当于电流,温差相当于电
压,则热阻相当于电阻。
以下是一些单板元器件热分析使用的重要热阻概念,这些热阻参数一般由元器件
生产厂商根据标准实验测量提供,可在器件的用户说明书中查出:
2.1.4.1 结至空气热阻Rja:元器件的热源结(junction)到周围冷却空气(ambient)的
总热阻,乘以其发热量即获得器件温升。
2.1.4.2 结至壳热阻Rjc:元器件的热源结到封装外壳间的热阻,乘以发热量即获得结与
壳的温差。
2.1.4.3 结至板热阻Rjb:元器件的 |