最近在仿真某个电源模块的MOS器件温度,器件为SMD封装,仿真模块用的是双热阻,结壳热阻是0.52K/W,另一侧热阻没有相关信息,就用的52K/W。
主要散热途径为MOS器件金属底壳通过单板的TOP层0.07mm copper传导到旁边的铜片散热器(约2mm高)。
仿真结果中,风扇工作点都OK,残差也在30以下,其余温度监控点也完全走平。但唯独双热阻模型结温监控点,以及0.07mm铜箔的温度监控点一直是发散状态。 尝试将这个0.07mm的铜箔删除再进行仿真,双热阻模型的结温就完全走平了。 单板、铜箔、双热阻模型没有不贴边网格。尝试了加密局部网格温度仍是发散。 网格划分及收敛截图见附件。(不能直接贴图) 请各位大神指点一二。谢谢
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