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标题: JESD 芯片热测试的国际标准 [打印本页]

作者: 哈哈哈哈 时间: 2011-5-1 08:54
标题: JESD 芯片热测试的国际标准
最近与国外客户联系，了解到他们的Ta，Tj和热阻等都是按照国际标准测试得出的，本人在google上搜索很久也没有找到这些标准，哪位大虾共享下，谢谢了！

作者: FloEFD 时间: 2011-5-1 08:54
标题: JESD51
仔细找找看，网上应该有，我记得当初好像是从jedec的网站上当的。

JESD51-2.pdf (66.74 KB) EIA/JESD51-2 IC Thermal Test Method Environment
jesd51-7.pdf (308.68 KB) JESD51-7 High Effective Thermal Conductivity
JESD51-8.pdf (74.49 KB) JESD51-8 IC Thermal Test Method Environmental

作者: 阳光下 时间: 2011-5-1 08:54

挺有用的,多谢了....

作者: 青花瓷 时间: 2011-5-1 08:54

超版的宝贝不少啊,合适的时候就搞一下个人崇拜好了!

作者: 小丫头 时间: 2011-5-1 08:54
标题: JESD51-12_Guidelines for reporting and using electronic package thermal informat

剛入行時登錄過, 好像要註冊會員才能下載, 先看看這個吧

JESD51-12 Guidelines for Reporting and Using Electronic

JESD51-12_Guidelines for reporting and using electronic package thermal information.pdf (194.9 KB)

作者: 逍遥神 时间: 2011-5-1 08:54

谢谢，一在网上down了，挺全的，公司不便上传，回家后传上来

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